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谷田 肇; 岡本 芳浩; 永井 崇之
no journal, ,
ガラス固化体を長期間安定に保つために、放射性元素が析出しないようにする必要があり、その化学状態の分布を評価することは極めて重要である。ここでは、透過法では測定が難しい比較的低エネルギーに吸収端を持つ元素について、二次元蛍光イメージングXAFS法を用いて、その価数分布の評価を試みた。マイクロビームによる蛍光X線マッピングより、広範囲を高速に評価することを目的としている。